金相显微镜 SC-50M

金相显微镜 SC-50M

科研级微分干涉DIC金相显微镜，2K屏导电粒子压痕检测金相显微镜

      全新SC-50M 研究级金相显微镜多项首创于一身，从外观到性能都紧跟国际设计风向，致力于拓展工业领域全新格局。SC-50M 秉承不断探索不断超越的品牌设计理念，为客户提供完善的工业检测解决方案

多档分光比观察头设计

       全新SC-50M 系列观察筒，采用宽光束成像系统设计，支持26.5mm 的超宽视野观察带给您全新的大视野体验。两档式正像铰链三目观察筒，保证样品的移动方向与您通过目镜观察到的方向一致，使操作更加得心应手。

       三档式铰链三目观察筒，在成像光线 用于双目观察或三目摄影的基础上，增加一档20%用于双目观察，80% 用于显微摄影，方便用户同时对镜下图像与视频图像进行对比观察；

偏振系统

偏振系统包括起偏器和检偏器，可做偏光检测，在半导体和PCB 检测中，可消除杂光，细节更清楚。检偏器分为固定式检偏器和360 度旋转式检偏器。360°旋转式检偏器可在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态。可在偏振系统的基础上加载舜宇全新研发微分干涉器，建立诺曼尔斯基微分干涉衬比系统。

诺曼尔斯基微分干涉衬比系统

     全新研发的U-DICR 微分干涉组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来，如LCD 导电粒子，精密磁盘表面划痕等。